聯系我們  |  網站地圖  |  English   |  移動版  |  中國科學院 |ARP
首頁 簡介 管理部門 科研部門 支撐部門 研究隊伍 科研成果 成果轉化 研究生教育 黨建與創新文化 科普 信息公開 OA系統
檢測項目
綜合化學分析
原子光譜和質譜
X射線熒光
輝光放電質譜
X光電子能譜
液相和氣相色譜質譜
紅外光譜
X射線衍射
拉曼光譜
原子力顯微鏡
三維X射線顯微鏡(CT)
掃描電鏡
透射電鏡
熱學性能
力學性能
電學性能
現在位置:首頁>支撐部門>無機材料分析測試中心>檢測項目
測試項目
測 試 項 目
測 試 內 容
成分分析
化學定量分析、陰離子-電化學分析、碳硫含量分析、氮氧含量分析、真密度分析、粒度分析等
指定元素定性分析、未知樣品的半定量分析、定量分析等
等離子體發射光譜(ICP-OES)和等離子體質譜(ICP-MS)定性、半定量和定量分析;原子吸收光譜(AAS)定量分析。
固體樣品的痕量元素分析
成分表面分析,價態分析,多層膜深度剖析
適用于常見化合物、農藥、環境污染物、違禁添加物、化學污染物等殘留物的定性及準確定量分析
適用于復雜基質中痕量化合物的精確定量分析,同時兼具定性分析功能

紅外光譜

適用于有機、無機、高分子、半導體、復合材料中氣態、液態、固態等復雜成分快速鑒定,微區分析、薄層分析、材料缺陷快速定位與分析
結構分析
物相定性、物相定量、晶胞參數、介孔材料小角衍射、納米材料微結構(晶粒尺寸、微應力)、Rietveld結構精修、高溫原位衍射(HTXRD)、低溫原位衍射(LTXRD)、高分辨衍射(HRXRD)、掠入射衍射(GID)、全反射(XRR)、微區衍射、殘余應力、織構、電場原位XRD、化學反應原位XRD檢測、常溫或中低溫下單晶結構解析等
微區拉曼光譜測量、拉曼mapping、偏振拉曼測試、溫場原位拉曼、電催化原位和鋰(空)電池原位拉曼測量、與原子力顯微鏡聯用、TERS等
常溫和高溫下樣品表面三維形貌、粗糙度、膜厚等,PFM/MFM/SKM/cAFM等多種模式成像,對微區的電學/磁性/力學性質等進行表征,與拉曼光譜聯用、TERS等
二維斷層掃描和三維無損成像研究樣品微觀結構與缺陷,包括形態、孔隙、裂紋等
粉體形貌分析、EDS定性半定量分析、STEM+HAADF成像、超薄片樣形貌分析、高分辨晶格像、離子減薄、選區電子衍射
形貌、定性分析、定量分析、面分布、線掃描
熱學性能
導熱性能測試:非穩態法(激光法、熱線法)和穩態法(保護熱流計法、熱流計法、平板法等);
比熱容測試;
熱膨脹系數、燒結溫度、軟化點、玻璃化轉變溫度、相變點、熱效應;
儲能模量、損耗模量、損耗因子Tan、粘度、三點彎曲、薄膜/纖維拉伸性能等。
保溫耐火材料測試:體積密度、真密度、氣孔率、吸水率、憎水率、含水(濕)率、加熱線變化、渣球含量、耐火度、纖維直徑分布、燃燒性能、燒失量、抗熱震性等。
熱分析:材料受熱過程中的質量變化及晶型轉變等物化反應中的熱效應,熱分解溫度及熱分解過程中逸出氣體成份表征。
超高溫激光共聚焦測試:高溫下材料組織結構變化(熔融、凝固、結晶等)的實時、原位、高清觀察與分析,高溫狀態下的拉伸、三點彎曲測試;
氣懸浮材料制備研究、形核實時觀察。
爐溫溫場測量、各類熱電偶及溫控儀表的校準等。
力學性能
抗壓強度、彎曲強度、抗剪強度、抗拉強度、洛式硬度、維氏硬度、顯微硬度、彈性模量、體積密度、吸水率、氣孔率。
電學性能
介電溫譜、介電頻譜、體積電阻率、抗電強度、電滯回線、偏置電場下的介電性能、熱釋電系數等。
閃爍材料表征與測試
分光光度計、量子效率測量系統、精密多道能譜儀、閃爍發光動力學測量儀等。
版權所有 中國科學院上海硅酸鹽研究所 滬ICP備05005480號-1
長寧園區地址:上海市長寧區定西路1295號 電話:86-21-52412990 傳真:86-21-52413903 郵編:200050
嘉定園區地址:上海市嘉定區和碩路585號  電話:86-21-69906002 傳真:86-21-69906700 郵編:201899
国产激情久久久久动态图,国产亚洲精品无码成人,国产麻豆精品一区二区三区,国产另类AV综合图区_主页